第三十九章 载流子迁移率(2/2)

法,也就是celiv。

原理上是先给器件一个短暂的激光脉冲,有效层吸收激光的光能,在内部产生载流子,然后用一个线性增大的电压,将电子和空穴分别‘扫’至负极和正极,便形成了电流。

这种方法中,波形的电流大小不重要,因为我们关心的是电荷迁移率,所以主要考察电流信号产生峰值的时间。

时间越短,就表明载流子运动的越快,迁移率就越高。

在计算公式中,迁移率与时间的负二次方成正比。

这种方法得到的迁移率无法区分电子和空穴,是它们整体的迁移率。

另外一种是飞行时间法,tof。

采用这种方法需要制备特别的电池器件,首先有效层要比较厚,通常在300纳米以上为宜,保证载流子在有效层内‘飞行’的时间足够长。

此外,还需要在器件结构中加入电子和空穴的阻挡层,从字面意思上可以理解,阻挡层就是电子和空穴几乎无法通过的材料。

通常可以使用绝缘体作为阻挡层,我们一般用氟化锂,蒸镀5纳米厚度就可以有效的阻挡电子和空穴通过。

原理上和celiv类似,不过采用的是恒定电压,主要考察电流信号开始衰减时的时间。

因为阻挡层的存在,可以分别测试电子和空穴,两种载流子各自的迁移率。

我们现在没有能够用来测试tof的器件,所以今天只测试celiv。”

仪器的参数都是默认设置好的,操作也不难,陈婉清示范过后,许秋将另外的五组体系也测试完毕。

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